近场探头介绍 
    电磁场是由电场(E场)和磁场(H场)结合形成的。工程师可使用各种探头来检测每类场中的发射。  
    近场探头磁场发射源通常来自芯片组引脚、印刷电路板导线、电源线或信号线，或没有良好接地的金属盖。近场探头的感应元件是一个与发射导线或电线电感耦合的简易线圈。近场探头在它的回路与载流电线对齐时，提供频谱分析仪的zui大输出电压。在诊断EMI的故障时，工程师需要在被测器件的表面旋转和移动探头，以确定探头在功率读数达到zui大值时的位置，同时避免遗漏重要的发射源。 
    近场探头电场主要来源于未使用负载端接的电缆和电线，以及通向高阻抗逻辑电路的印刷电路板导线(可能是逻辑集成电路的高阻抗输入或三相输出)。zui简单的近场探头实质上就是一个小型天线。近场探头能够很方便地探测空中信号，例如蜂窝下行链路信号。这些大功率空中信号可能需要增加衰减，以防频谱分析仪过载。不过，增加衰减将会影响频谱分析仪的灵敏度。 
    选择近场探头类型在远场测试中，被测器件和天线之间的距离决定了场强的大小。当近场探头靠近发射源时，电流、电压、形状和材料等特性将成为决定场强的主要因素。如果辐射是来自高电压、弱电流的电路或元器件，那么电场在EMI近场中将起到主要作用。如果部分被测器件中电流很强而电压较低，那么磁场将起到主要作用。在近场测试中，当近场探头逐渐远离被测器件时，磁场衰落的速度比电场更快。因此，近场探头更多地用于在近场测试中定位发射目标。